PosiTestPG 破坏法涂层测厚仪

产品简介
美国DeFelsko公司PosiTestPG 破坏法涂层测厚仪使用经过验证的有损技术，测量任何基体上一层或多层涂层的厚度。- 耐用的阳极氧化铝外壳- 可旋转刀头支架，可容纳四个刀头- 50倍显微镜，配有精密光学元件和可旋转的公制/英制刻度盘- 符合 ISO 2808/19399，ASTM D4138，JIS K 5600-1-7和NF T30-123标准。

Name: PosiTestPG 破坏法涂层测厚仪
Brand: DeFelsko/美国狄夫斯高
Price: 8900 CNY
Availability: InStock

产品型号：

更新时间：2026-10-23

厂商性质：经销商

访问量：24

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PRODUCT CLASSIFICATION

测厚仪

涂层测厚仪超声波测厚仪霍尔效应测厚仪库仑测厚仪耦合剂

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美国DeFelsko公司PosiTestPG 破坏法涂层测厚仪

美国DeFelsko公司PosiTestPG使用经过验证的有损技术，测量任何基体上一层或多层涂层的厚度。
- 耐用的阳极氧化铝外壳
- 可旋转刀头支架，可容纳四个刀头
- 50倍显微镜，配有精密光学元件和可旋转的公制/英制刻度盘
- 符合 ISO 2808/19399，ASTM D4138，JIS K 5600-1-7和NF T30-123标准。

仪器特点
简便 -
适用最大1250µm的涂层，具体取决于切割刀头--包括1X、2X和10X刀头(可选5X刀头)
安全固定多达四个切割刀头，可随时使用
使用一节易于更换的7号电池
内置超亮光源，具备简单的开关控制和自动定时功能，以节省电池寿命

耐用
耐用的阳极氧化铝外壳，带有旋转式切割刀头支架
包括按照国际标准进行测试所需的所有工具和配件

精确
包含可追溯至NIST的校准证书
配备的50倍显微镜，具有精密光学器件和可旋转的公制/英制刻度盘，用于快速准确的测量
大视野提供了舒适的眼部距离，无论是否戴眼镜均可观测

美国DeFelsko公司PosiTestPG 破坏法涂层测厚仪参数

刀头	转换系数	涂层厚度范围	每个刻度厚度	精确度
1X	1	0~1250μm/0~50mils	20μm/1mils	±25.4μm/±1mils
2X	0.5	0~625μm/0~25mils	10μm/0.5mils	±12.7μm/±0.5mils
5X	0.2	0~250μm/0~10mils	4μm/0.2mils
10X	0.1	0~125μm/0~5mils	2μm/0.1mils	±2.5.μm/±0.1mils