产品简介

尼康Nikon MH-15M高精度数显高度计 0.01μm 超高精度测微计，精密厚度高度差测量仪，DIGIMICRO 高度计，数显高度计，高精度测微仪，厚度差测量，光栅高度计，是该系列中短量程超高精度型号。设备采用尼康玻璃增量光栅技术，无齿轮无机械摩擦磨损，稳定输出微米‑亚微米级测量数据。整机模块化设计，可配套各类测量支架、多样化测针，广泛用于精密零件高度、台阶差、薄膜厚度、平面翘曲度检测，兼顾

尼康Nikon MH-15M高精度数显高度计

尼康 MH‑15M 数显高度计 0.01μm 超高精度测微计，精密厚度高度差测量仪，DIGIMICRO  高度计，数显高度计，高精度测微仪，厚度差测量，光栅高度计

产品概述
尼康 MH‑15M 属于 DIGIMICRO 系列高精度光栅式数显高度测量头，量程 0‑15mm，搭配 TC‑200 计数器，实现0.01μm  最小读数，20℃精度可达  0.7μm，是该系列中短量程超高精度型号。设备采用尼康玻璃增量光栅技术，无齿轮无机械摩擦磨损，稳定输出微米‑亚微米级测量数据。整机模块化设计，可配套各类测量支架、多样化测针，广泛用于精密零件高度、台阶差、薄膜厚度、平面翘曲度检测，兼顾实验室研发与产线质检场景，可对接电脑完成数据输出与质量溯源

尼康Nikon MH-15M高精度数显高度计核心产品亮点

亚微米级测量精度
搭配 TC‑200 计数器，最小读数 0.01μm，精度 0.7μm（20℃），读数档位可切换  0.05μm/0.1μm/1μm/5μm，适配不同精度等级检测需求，短量程全域保持高精度，规避普通高度计量程末端精度衰减问题。

光学光栅测量原理，长期稳定性强
内置玻璃基体增量式光栅尺，光电读取信号，无齿轮啮合、无机械触点摩擦，减少磨损带来的精度漂移，抗震动冲击，温度特性优异，适合长期反复检测作业。

恒定可控微测力，保护轻薄工件
标准测力：向上 0.245N，向下 0.637N，横向  0.441N，带提升释放结构。测力轻柔均匀，测量薄膜、晶圆、薄片、软质镀层工件时，避免工件受压变形，还原真实尺寸，减少测量误差。

模块化灵活组合，配件丰富
MH‑15M 仅为测量头，可搭配 TC‑200 / MFC‑200 计数器；兼容 MS‑51C、MS‑12C  等多款测量底座支架；可选针型、平头、偏心、滚轴、塑料测针；支持防尘波纹罩配件，满足不同工件、车间环境使用条件Nikon Indu...。

数据输出，适配数字化质检
设备配备 RS‑232C 串口输出，可连接电脑、打印机，直接导出测量数据，满足数据记录、报表生成、质量体系审核，适配工厂数字化检测系统建设。

小巧便携，安装方式多样
测头本体体积小巧，重量轻，既可安装在专用测量台架手动检测，也可集成至工装夹具，用于半自动检测工位，安装适配性强。

尼康Nikon MH-15M高精度数显高度计技术参数表

典型应用领域
✅ 半导体行业：晶圆厚度、薄膜、垫片、芯片封装台阶高度差检测
✅ 电子精密制造：手机零部件、微型元器件、垫片厚度、翘曲度测量
✅ 模具五金：精密模仁、小零件台阶差、平面度、高度尺寸检测
✅ 光学行业：光学镜片、镀膜件厚度、垫片、微小工件尺寸质控
✅ 科研实验室：新材料试样厚度、微小形变、精密实验尺寸测量
✅ 产线质检：来料检测、成品全检，完成数据留存，满足品质管控要求

成套配置说明
标准成套：MH‑15M 测量头 + TC‑200 计数器 + MS 系列测量支架底座 + 标准测针
可选增配：特种测针、防尘波纹罩、数据线、打印机等配件。

咨询采购
尼康 MH‑15M 高精度数显高度计原装供应，可提供技术选型、方案对接，根据被测工件、精度要求推荐整套配置，欢迎咨询交期与技术支持。