三丰VL-50S-B系列高精度数显测高仪测量工件容易翘曲，不能正确测量时，建议选择测力比较大的型号或者追加配重。薄膜弹性基板各种膜，测量无纺布厚度时，也可以变更为符合标准的规格。(可特殊定制，请向本公司咨询。)医用无纺布工业用无纺布，测量无纺布厚度时，也可以变更为符合标准的规格。(可特殊定制，请向本公司咨询。)医用无纺布工业用无纺布

三丰VL-50系列高精度0.01N低测力数显测高仪测量工件容易翘曲，不能正确测量时，建议选择测力比较大的型号或者追加配重。薄膜弹性基板各种膜，测量无纺布厚度时，也可以变更为符合标准的规格。(可特殊定制，请向本公司咨询。)医用无纺布工业用无纺布，测量无纺布厚度时，也可以变更为符合标准的规格。(可特殊定制，请向本公司咨询。)医用无纺布工业用无纺布

尼康Nikon MF-501高精度高度计+MFC-200显示器+MS-12C套测量台，DIGIMICRO 高度计，数显高度计，高精度测微仪，厚度差测量，光栅高度计，是该系列中短量程超高精度型号。设备采用尼康玻璃增量光栅技术，无齿轮无机械摩擦磨损，稳定输出微米‑亚微米级测量数据。整机模块化设计，可配套各类测量支架、多样化测针，广泛用于精密零件高度、台阶差、薄膜厚度、平面翘曲度检测，兼顾

尼康 Nikon MF-1001高度计+MFC-200显示器+MS-22S测量台，DIGIMICRO 高度计，数显高度计，高精度测微仪，厚度差测量，光栅高度计，是该系列中短量程超高精度型号。设备采用尼康玻璃增量光栅技术，无齿轮无机械摩擦磨损，稳定输出微米‑亚微米级测量数据。整机模块化设计，可配套各类测量支架、多样化测针，广泛用于精密零件高度、台阶差、薄膜厚度、平面翘曲度检测，兼顾

尼康Nikon MH-15M高精度数显高度计 0.01μm 超高精度测微计，精密厚度高度差测量仪，DIGIMICRO 高度计，数显高度计，高精度测微仪，厚度差测量，光栅高度计，是该系列中短量程超高精度型号。设备采用尼康玻璃增量光栅技术，无齿轮无机械摩擦磨损，稳定输出微米‑亚微米级测量数据。整机模块化设计，可配套各类测量支架、多样化测针，广泛用于精密零件高度、台阶差、薄膜厚度、平面翘曲度检测，兼顾